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数显式叶片厚度仪

产品简介

数显式叶片厚度仪是一种专业测量叶片厚度的工具,可以精准的测量出叶片的厚度。叶片厚度变化具有周期规律性,可分为长周期和短周期(24小时)。掌握这些规律对研究植物水分状态具有重要意义,还可以通过这些规律指导农业节水灌溉。

产品型号:YHD-2
更新时间:2025-03-12
厂商性质:生产厂家
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数显式叶片厚度仪

仪器用途
叶片是植物重要的器官,是进行光合作用、蒸腾作用的重要场所,叶片厚度是指叶片的厚薄程度,这一定程度上可以反映植物生长装的变化。叶片厚度增加使单位叶片面积内含有更多的光合细胞,叶片越厚,栅栏组织越发达,叶绿素密度大,叶绿素含量高,光合活性也越高。叶片越厚,叶片越能充分利用光能,有利于光合效率的提高。YHD-2 数显式叶片厚度仪是一种专业测量叶片厚度的工具,可以精准的测量出叶片的厚度。
技术参数:
测量范围:0--10mm  
分辨率:0.01mm和0.001mm
精  度:0.02mm和0.005mm
接触面积:Φ10mm
读取装置:数显

数显式叶片厚度仪

叶片厚度仪型号区别数显式叶片厚度仪

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